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            中文名称:  | 
            超景深三维显微镜  | 
           
           
            英文名称:  | 
            Ultra-Depth Three-Dimensional Microscope  | 
           
           
            仪器编号:  | 
            01604394   | 
           
           
            仪器型号:  | 
            DSX 510  | 
           
           
            生产厂家:  | 
            日本奥林巴斯OLYMPUS  | 
           
           
            放置位置:  | 
            柔性电子制造实验室  | 
           
          
         
           功能介绍    
         用于电子材料或器件表面形貌观察、平面或三维测量;材料实验室或生产现场观测;失效断口、微观裂纹、腐蚀后材料表面三维观察与成像;金属材料断口、金相的观测,现代精密加工制造与工业测量,微电子封装,MEMS研究等。
           主要技术参数  
         ·光学变焦比:≥13.5(使用数码变焦时:≥30);能实现无极变焦,涵盖17x到9014x放大倍率范围
         ·放大倍率:35倍~9000倍
         ·照明:四段可控LED照明,可以从上、下、左、右四个不同的方 向将光线照射到样品上来进行观察。
         ·HDR功能:纹理增强和光晕消除。
         ·观察方式:明场,暗场,偏光,微分干涉,以及明场+暗场等五种方式。不同观察方式可进行电动切换,可以进行透射光观察。
         ·自动对焦和自动曝光
         ·数码采集系统:201万像素彩色CCD(总像素:1800万像素)
         ·聚焦部分(电动):行程:95mm,最小分辨率:0.01μm
         ·电动载物台:行程100×100 mm,样品可倾斜观察,垂直方向45%,水平方向360%
         ·2D和3D成像、测量及图像拼接功能:可测量点间距,圆心距,轮廓、高度、面积等
         ·液晶显示器:23寸触屏式高清彩色液晶显示器,像素数:1920(H)×1080(V)
           应用图例  
         可应用于半导体、微纳米器件、机械制造、材料研究等领域的实验研究,如金属材料断口、金相的观测,材料表面三维观察与成像等。